Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía - IGME - CSIC

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Categoría: SEM

Variantes de la prestación

Envío de resultados

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ muestra

Sesión sin supervisión

Contactar con el Laboratorio para consultar condiciones de utilización

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ hora

Sesión supervisada parcialmente

Contactar con el Laboratorio para consultar condiciones de utilización

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ hora

Sesión supervisada

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ hora

Recubrimiento de C muestra

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía

Unidad de Microscopía Aplicada/Visión Artificial

Presupuesto en: €/ muestra

Prestaciones de grupo relacionadas

No hay prestaciones de grupo relacionadas

Prestaciones de departamento relacionadas

No hay prestaciones de departamento relacionadas